概述
PL7152 是一款基于 CMOS 的雙節(jié)可充電鋰電池保護(hù)電路，它集高精度過(guò)電壓充電保護(hù)、過(guò)電壓放電保護(hù)、過(guò)電流充電保護(hù)、過(guò)電流放電保護(hù)、電池短路保護(hù)等性能于一身。
正常狀態(tài)下，PL7152 由電池供電。當(dāng)兩節(jié)電池電壓（VBATU/VBATD)都在過(guò)電壓充電保護(hù)閾值（VOCU/D）和過(guò)電壓放電保護(hù)閾值（VODU/D）之間，且其 VM 檢測(cè)端電壓在過(guò)電流充電保護(hù)閾值（VECI）和過(guò)電流放電保護(hù)閾值（VEDI）之間，此時(shí) PL7152 的 COUT 端和 DOUT 端都輸出高電平，分別使外接充電控制 N-MOSFET 管Q1 和放電控制 N MOSFET 管 Q2 導(dǎo)通。這時(shí)，既可以使用充電器對(duì)電池充電，也可以通過(guò)負(fù)載使電池放電。
PL7152通過(guò)檢測(cè)兩個(gè)電池電壓來(lái)進(jìn)行過(guò)充/放電保護(hù)。當(dāng)充/放電保護(hù)條件發(fā)生時(shí)，COUT/DOUT 由高電平變?yōu)榈碗娖剑��?Q1/Q2 由導(dǎo)通變?yōu)榻刂梗瑥亩��?放電過(guò)程停止。PL7152對(duì)每種保護(hù)狀態(tài)都有相應(yīng)的恢復(fù)條件，當(dāng)恢復(fù)條件滿足以后，COUT/DOUT 由低電平變?yōu)楦唠娖剑?使 Q1/Q2 由截止變?yōu)閷?dǎo)通，從而進(jìn)入正常狀態(tài)。
PL7152對(duì)每種保護(hù)/恢復(fù)條件都設(shè)置了一定的延遲時(shí)間，只有在保護(hù)/恢復(fù)條件持續(xù)到相應(yīng)的時(shí)間以后， 才進(jìn)行相應(yīng)的保護(hù)/恢復(fù)。如果保護(hù)/恢復(fù)條件在相應(yīng)的延遲時(shí)間以前消除，則不進(jìn)入保護(hù)/恢復(fù)狀態(tài)。當(dāng) VM 小于-5V，VDD 從 0V 升高至正常值時(shí)，芯片將進(jìn)入快速檢測(cè)模式，縮短延遲時(shí)間，并禁止過(guò)電流充電保護(hù)功能。過(guò)電壓充電檢測(cè)和過(guò)電壓放電檢測(cè)延遲時(shí)間會(huì)縮短到將近 1ms，這能有效地縮短保護(hù)電路 PCB 的檢測(cè)時(shí)間。當(dāng) VM 升高至 0V 以上時(shí)，芯片將退出快速檢測(cè)模式。

特點(diǎn)
 兩節(jié)鋰離子或鋰聚合物電池的理想保護(hù)電路
 高精度的保護(hù)電壓（過(guò)充/過(guò)放）檢測(cè)
 高精度過(guò)電流充電/放電保護(hù)檢測(cè)
 低供電電流
 在低功耗模式，不接充電器情況下，可自動(dòng)恢復(fù)狀態(tài)
 電池短路保護(hù)
 可選擇多種型號(hào)的檢測(cè)電壓和延遲時(shí)間
 縮短延遲時(shí)間測(cè)試功能
 0V 電池充電功能
 極少的外圍元器件
 超小型化的 SOT23-6 封裝容－源－電－子－網(wǎng)－為你提供技術(shù)支持

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